# Sergei Skorobogatov ## 概要 Sergei Skorobogatovは、*Security Engineering* 第3版第18章で著者Ross Andersonの同僚(Cambridge)として繰り返し登場する、チップレベルの耐タンパ性研究の中心人物である。2001年以降、光学プロービングを効果的かつ低コストな技術に発展させ、2002年にはAndersonと共同で写真用フラッシュガンを使ってICの選択したトランジスタに一時的な故障を誘発する手法を報告した。同年、安価な顕微鏡に載せたレーザーでマイクロコントローラのメモリを直接読み出す手法も報告し、これを「semi-invasive analysis(半侵襲的解析)」と名付けた。2005年にはFlashメモリから、消去後であってもデータを抽出できることを発見し、2018年には酸エッチングとマスキングを組み合わせてVasco Digipass 270のバッテリー駆動チップを露出させることに成功した。2016年にはFranck Courbon・Chris Woodsと共同で、受動電圧コントラスト(PVC)を用いた走査電子顕微鏡によるFlash/EEPROMの自動読み出し技術を確立し、スマートカードのメモリ全体を読み出すことを実用化した。2016年には、FBIがサンバーナーディノ銃撃犯のiPhone 5cの解錠を要求した事件を受け、NANDメモリチップを取り外して複製する「NANDミラーリング攻撃」を実証し、PIN試行回数の制限を回避できることを示した。2009年には、光子放出解析(optical emission analysis)によってモダンなチップ(Actel ProASIC3 FPGA)からAES鍵を読み出せることを示し、チップの供給電圧を上げることで光子出力を増幅させる手法を発見した。(Source: [[@2020__Wiley__Security Engineering 3e - Chapter 18 Tamper Resistance]] ch.18 §18.3, §18.5.3, §18.5.6) ## 関連 - ソース: [[@2020__Wiley__Security Engineering 3e - Chapter 18 Tamper Resistance]](§18.3, §18.5.3, §18.5.6) - 概念: [[耐タンパ性]] - 実体: [[Ross Anderson]] ## 出典 - Ross Anderson, *Security Engineering: A Guide to Building Dependable Distributed Systems*, 3rd Edition, John Wiley & Sons, 2020, Chapter 18, §18.3, §18.5.3, §18.5.6.